表面觀察及分析

島津能夠提供鋼鐵、有色金屬、環境、食品、化工、製藥、半導體、陶瓷及高分子等眾多領域客戶,多種樣品分析所需種類繁多的分析儀器。電子探針(EPMA)分析的物件從幾釐米到幾微米;X光光電子能譜儀(XPS)分析的物件從幾毫米到幾微米;而掃描探針顯微鏡(SPM)觀察範圍從100微米到幾奈米。

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SPM-8000FM高感度掃描型探針顯微鏡

SPM-8000FM
高感度掃描型探針顯微鏡

HR-SPM為採用FM頻率調變檢出方式的新世代掃描型探針顯微鏡。過去的SPM(掃描型探針顯微鏡)/AFM(原子力顯微鏡)一般為AM(震幅調變)的方式, FM(頻率調變)方式原理上為高感度測定法,可以更高分解能成像。不僅可以超高分解能觀察大氣中以及液體中的樣品,也可觀察在固液界面的水合、溶合作用。

SPM-9700掃描探針顯微鏡

SPM-9700HT
掃描探針顯微鏡

可高倍率觀察樣品的三維立體形狀或局部物性的顯微鏡。因其豐富的功能性與擴張性,可支援各種需求。精進的軟體介面,從觀察到分析的操作更為順暢。

EPMA-8050電子探針

EPMA-8050G
電子探針

此儀器配備有尖端的場發射電子光學系統(FE-Gun),其中提供了前所未有的空間分辨率以及大電流輸出,實現超高靈敏度分析。最多可裝到五組偵測器 ,以縮短分析時間。人性化的介面使用者更容易上手,只要使用滑鼠就可完成分析,更甚而可以完成整份報告。

EPMA-1720/1720H電子探針

EPMA-1720/1720H
電子探針

可在微區領域進行高靈敏度、高精度分析。控制系統全部數位化。觀察、分析只需使用滑鼠、鍵盤,Windows操作系統,使用方便且安全。還可通過區域網電腦瀏覽數據。EPMA-1720H型配備高性能CeB6燈絲,實現了在微奈米領域的分析實用化。

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