接軌 2026 綠色法規新紀元！IEC 62321-3-1:2026 全新改版與 EDX-7200 快速篩檢解決方案

隨著全球供應鏈對環境永續、產品安全與材料透明度的要求持續提升，國際電工委員會（IEC）於 2026 年5月6日 正式發布新版 IEC 62321-3-1:2026《Determination of certain substances in electrotechnical products – Part 3-1: Screening by X-ray Fluorescence Spectrometry (XRF)》。

此次改版不僅延續 RoHS 有害物質篩檢需求，更將 XRF 技術定位提升至供應鏈風險管理與材料合規篩檢的重要工具。新版標準擴大了可篩檢元素範圍，協助企業更有效率地識別潛在風險材料，降低後續確認分析成本，並提升產品符合國際法規的能力。

過去 IEC 62321-3-1 主要應用於 RoHS 管制元素的快速篩檢，包括：
•    鉛（Pb）
•    汞（Hg）
•    鎘（Cd）
•    總鉻（Total Cr）
•    總溴（Total Br）

而在新版 IEC 62321-3-1:2026 中，新增了四項重要指標元素：
•    總磷（Total P）
•    總氯（Total Cl）
•    總錫（Total Sn）
•    總銻（Total Sb）

使 XRF 可篩檢元素擴展至：
•    Pb
•    Hg
•    Cd
•    Total Cr
•    Total Br
•    Total P
•    Total Cl
•    Total Sn
•    Total Sb

新版標準導入「Indicator Elements（指標元素）」概念，利用元素含量作為潛在受限物質風險的篩檢依據。

值得注意的是，XRF 所量測的是元素總量，無法區分其化學形態。
例如：
•    測得 Br，無法直接判定是否為 PBB 或 PBDE。
•    測得 Cr，無法直接區分 Cr³⁺ 或 Cr⁶⁺。
•    測得 Cl，無法直接確認是否為 SCCPs。
•    測得 Sn，無法直接判定是否存在特定有機錫化合物。

因此，XRF 的角色為快速篩檢工具，若發現異常結果，仍建議透過 GC-MS、LC-MS/MS、ICP或 IEC 62321 相關確認方法進一步分析。

面對新版標準新增的 P、Cl、Sn、Sb 等元素篩檢需求，島津 EDX-7200 能量色散型 X 射線螢光分析儀提供快速、非破壞且高效率的分析能力。

卓越的輕元素分析能力

P、Cl 等輕元素向來是 XRF 量測的重要挑戰。

EDX-7200 配備高計數率 SDD（Silicon Drift Detector）偵測器，並支援真空及氦氣置換量測模式，可有效提升輕元素的訊號強度與分析靈敏度。

對於：
•    塑膠材料
•    電子零組件
•    PCB 板材
•    薄膜塗層
•    包裝材料
皆能提供快速且穩定的元素篩檢結果。

多元素同步分析，提高篩檢效率

EDX-7200 可分析 Na(11) 至 U(92) 元素範圍。

一次測試即可同步獲得：
•    RoHS 管制元素
•    Br
•    Cl
•    P
•    Sn
•    Sb
等多項元素資訊。

透過非破壞分析方式，可於數分鐘內完成材料風險評估，大幅提升來料檢驗（IQC）及供應商管理效率。

快速建立材料風險預警機制

企業可利用 EDX-7200 建立材料風險篩檢流程：
1.    XRF 快速篩檢
2.    發現異常元素含量
3.    判定高風險樣品
4.    進行確認分析
5.    建立供應鏈管理機制

例如：
當材料中出現異常偏高的 Cl 或 P 含量時，可作為含氯或含磷受限物質的風險警訊，進一步安排 GC-MS 或 LC-MS/MS 進行確認分析。

此方式能有效降低全面送驗成本，同時提升法規符合性管理效率。

IEC 62321-3-1:2026 的發布，代表 XRF 技術已逐漸從傳統 RoHS 有害元素檢測，延伸至供應鏈風險管理與材料合規篩檢的重要角色。

透過新增 P、Cl、Sn、Sb 等指標元素，企業能更早掌握潛在風險材料，提高法規符合能力，並降低產品上市後的風險與成本。

島津 EDX-7200 結合快速分析、非破壞檢測及優異的輕元素分析能力，可協助企業建立符合 IEC 62321-3-1:2026 精神的材料篩檢機制，為未來綠色供應鏈與永續發展做好準備。