異物分析
產品被客訴有瑕疵！但這黑點這麼小，要怎麼解析……？
解決方案
FTIR除了可以作為巨觀 (macro)、純物質樣品的材質分析工具之外，搭配適當的附件也可以進行如較微小樣品 (micro-sampling) 或異物分析。一般而言大小約在數百微米 (µm, 相當於10-6 m) 的樣品是有機會使用IRSpirit進行分析的。
異物分析一般需要在大範圍下找到微小的待測物，並確認紅外光的光斑準確地照射在待測物上，才可以進行量測。但使用裝在 FTIR 主機上的 ATR 套件時，由於待測物是朝下放置於晶體上，要以肉眼確認測定位置正確是很困難的。而在 IRSPirit 上，使用搭配影像觀察功能的 ATR 套件，您可以確保「看到哪」就「測到哪」。除此之外，異物分析往往也需要測量異物的大小，搭配此套件與軟體內建的尺規功能，如同使用光學顯微鏡一般，您可以輕易量測異物得到的尺寸。同時，不論您的樣品是含強酸鹼或者硬度較高，使用的鑽石 (Diamond) 材質 ATR 晶體 (註) 讓您分析時可以更加放心。
樣品實例
使用 IRSpirit 搭配影像觀察功能 ATR 套件分析頭髮 (左圖)，並獲得尺寸 (122.63 µm) 等資訊。 可以準確定位頭髮的位置測得圖譜，由資料庫比對確認結果無誤。(右圖)
IRSpirit 分析 PU 上的異物 (即最上方的樣品)，
利用影像觀察功能準確定位樣品並量測異物直徑約 669.01 µm (左圖)，
分析並比對資料庫後發現異物可能為矽化合物 (右圖) 。
註：ATR 晶體亦可依據實驗需求選擇鍺 (Ge)、硒化鋅 (ZnSe)、矽 (Si) 等材質，或三點/九點式鑽石、加熱式晶體。