MIV-X

MAIVIS 超音波光學檢測裝置

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讓它可見！

可視化裂縫、空隙、分層和其他通常無法目視檢查的隱藏缺陷

 

任何人都可以快速輕鬆地執行視覺表面檢測

MIV-X

得益於島津獨有的光想像技術，
它結合了超聲波振盪器和頻閃儀，
可以輕鬆無損地檢查材料表面附近的缺陷，包括異質材料的粘合和粘合表面的剝離，以及油漆、熱噴塗和塗層。

Enables inspections according to the object size
  • 只需將超聲波振盪器連接到樣品上，然後將相機定位在檢測表面上方
  • 快速顯示超聲波的傳播情況，並從視頻中輕鬆識別缺陷。
  • 易於操作的軟件增強了標記缺陷和輕鬆測量尺寸的功能。
  • 該系列包括一個可選的光學變焦組，可以檢測更小的缺陷。

用於各種行業

 

  • Utilized in Various Industries

  • 超聲波光學探傷可以顯示使用傳統超聲波檢測難以發現的內部缺陷（深度約為 1 毫米）。 它可以在涉及多種材料的研發過程中輕鬆檢測接頭和粘合表面的缺陷，這些材料通過組合不同的材料來增加強度和減輕重量。


    Inspection Result Screen

    Inspection Result Screen

特色

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影片

  • MIV-X: Ultrasonic Optical Flaw Detector

  • MIV-X: Inspection Procedure in 4 Steps

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