ALTRACE - 應用資訊

能量色散式X光螢光光譜儀

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食品檢測應用領域

適用樣品如可可粉、白米、奶粉等         校正曲線法 

由於鎘（Cd）、砷（As）、鉛（Pb）、汞（Hg）具高度毒性，食品中對其含量有嚴格限制，最高容許濃度通常低於 1 ppm。ALTRACE 可對食品樣品中的這些重金屬進行偵測，最低可達 0.1 mg/kg 的偵測能力。

標準樣品 NMIJ7502-a 的分析結果

標準樣品 NMIJ7502-a 的分析結果

校正曲線法

  • 校正曲線法是透過量測一系列標準樣品，建立濃度與 X 光強度之間的對應曲線。此曲線可用於計算未知濃度樣品的含量。
    - 標準樣品應與未知樣品具備相似基質（Matrix）
    - 每一個目標元素需建立對應的校正曲線
    - 校正曲線法能提供高準確度的定量數據
    - 支援吸收／激發校正、光譜重疊修正等進階補正功能
  • Calibration Curve Method

化學製品與土壤分析應用

適用樣品如化學產品原料（液體與粉末）     FP 定性與定量分析法 

能量色散式 X 光螢光光譜儀（EDX）廣泛應用於環境相關領域。粉末或顆粒狀樣品可直接放入樣品槽中進行量測，無需溶解。土壤中含有多種元素，透過 FP 法可先進行定性分析，再進一步進行定量分析。

Analysis Results for Soil Samples

Analysis Results for Soil Samples

FP 法

FP 法是透過理論強度計算，來推算樣品的元素組成，特別適用於難以取得標準品的定量分析。若樣品的主要成分為 C、H、O，則需設定「殘餘值（Balance）」，可由事先輸入，或根據散射 X 光的圖譜形狀理論計算得出。

背景 FP 法

背景 FP 法則進一步利用散射 X 光（背景強度）來修正樣品基質效應，提升分析準確度。

背景 FP 法