ALTRACE - 特色
能量色散式X光螢光光譜儀
卓越的偵測靈敏度
透過島津獨家的光學系統設計與高速訊號處理技術結合，ALTRACE相較於島津其他通用型系統 (EDX-7200)，實現了最高等級的偵測靈敏度。
突破傳統測量需求的卓越靈敏度
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透過高功率 X 光管與高靈敏度偵測器的最佳光學配置，再結合高速訊號處理技術，實現了極高的偵測效率。
在水溶液樣品分析中，所有元素的偵測下限皆較以往設備大幅提升。
此系統特別適用於低濃度樣品的分析，以及需縮短測量時間的多樣品自動分析作業。 
以往設備與 ALTRACE 偵測下限比較
支援從 ppm 等級到百分比濃度的廣泛範圍之元素批次分析
自動濾光片切換機制，有效提升靈敏度
透過主 X 光濾光片可有效去除背景訊號，進而提升訊噪比（S/N ratio）。對於背景訊號不可忽略的微量分析情境，濾光片特別具備優勢。
ALTRACE 配備 6 組主濾光片（共 8 種類型，含全開與減弱器），可由軟體自動切換，大幅提升分析效率與靈敏度。-
Effective Energy (keV) Example of Applicable Elements Filter #1 14 to 38 Mo,Rh,Pd,Ag,Cd,Sn,Sb Filter #2 2 to 4 S,Cl Filter #3 5 to 10 r,Mn,Fe,Co,Ni Filter #4 9 to 10 Hg Filter #5 9 to 14 As,Br,Zr,Hg,Pb,Bi Filter #6 4 to 5 Ti,V
告別繁瑣的前處理步驟
液體與粉末樣品可直接置入樣品槽中進行量測，無需額外處理。
EDX 為非破壞性技術，能以相同樣品進行快速篩選與高精度分析。過去的 EDX 系統無法量測至 0.1 ppm 等級的濃度，但 ALTRACE 已能達成此等級的偵測能力。現在，無需任何化學前處理，即可實現 ppm 等級的偵測表現。
簡易篩選 × 精密分析，一機搞定
在指定元素進行定量分析時，建立一次校正曲線後，後續量測無需重複建立，大幅提升效率。
此外，ALTRACE 也非常適合用於簡單的篩選分析，因其採用基本參數法（FP 法），可在不指定元素的情況下，直接進行定性與定量分析。
固體、粉末、液體樣品皆可直接量測
ALTRACE 採用專用樣品槽設計，樣品可直接放入進行量測。樣品由適用於不同類型樣品的透明 X 光薄膜支撐，操作簡便、快速又有效率。
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粉末與錠劑樣品
粉末與壓錠樣品可直接放入樣品槽中，並以聚丙烯（PP）薄膜作為支撐材。
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液體樣品（含水性與含油性）
水溶液可直接倒入樣品槽中，並以聚丙烯薄膜支撐。其他液體樣品，如有機溶劑，則可依樣品性質選用適合的薄膜進行量測。
高通量與高效率
可達自動連續分析 48 個樣品
寬度 710mm 的主機內建多樣品自動更換裝置，搭配抽屜式樣品盤設計，可在不打開儀器內部的情況下，安全地更換樣品，提升操作便利性與效率。
分析過程可暫停與重新指派，靈活度大幅提升
在分析進行中，ALTRACE 可隨時暫停作業，新增樣品並調整分析順序，因此無需等候所有分析完成即可開始準備下一批樣品，大幅提升作業效率與彈性。